介質(zhì)損耗測(cè)試儀 介電常數(shù)測(cè)試儀
  
介質(zhì)損耗測(cè)試儀介電常數(shù)測(cè)試儀簡介
任何電介質(zhì)在電場(chǎng)作用下，總是或多或少地把部分電能轉(zhuǎn)變成熱能使介質(zhì)發(fā)熱。我們把電介質(zhì)在電場(chǎng)作用下，在單位時(shí)間內(nèi)因發(fā)熱而消耗的能量稱之為電介質(zhì)的損耗功率，或簡稱為介質(zhì)損耗。介質(zhì)損耗是所有應(yīng)用于交流電場(chǎng)中電介質(zhì)的很重要的品質(zhì)指標(biāo)之一。因?yàn)榻橘|(zhì)在電工或電子工業(yè)上的重要功能是隔直流絕緣和儲(chǔ)存能量。

      華測(cè)介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀介紹

        北方華測(cè)生產(chǎn)的HCJDCS-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀是根據(jù)GB/T
1409《測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法》（等效采用IEC
60250）設(shè)計(jì)和制造的，并符合JB  7770等試驗(yàn)方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測(cè)試。
  HCJDCS-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀作為最新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器，測(cè)試頻率上限達(dá)到目前國內(nèi)最高的160MHz。采用了多項(xiàng)領(lǐng)先技術(shù)：
1.  雙掃描技術(shù)  -  測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。
2.  雙測(cè)試要素輸入  -  測(cè)試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。
3.  雙數(shù)碼化調(diào)諧  -  數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧。
4.  自動(dòng)化測(cè)量技術(shù)  -對(duì)測(cè)試件實(shí)施  Q  值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測(cè)量。
5.  全參數(shù)液晶顯示  –  數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、  Q  值、信號(hào)源頻率、諧振指針。
6.  DDS  數(shù)字直接合成的信號(hào)源  -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。
7.  計(jì)算機(jī)自動(dòng)修正技術(shù)和測(cè)試回路最優(yōu)化  —使測(cè)試回路  殘余電感減至最低，徹底根除  Q
讀數(shù)值在不同頻率時(shí)要加以修正的困惑。

介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀適用范圍
該儀器用于科研單學(xué)、學(xué)校、工廠等單位對(duì)無機(jī)非金屬新材料性能的應(yīng)用研究。
      
介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)定儀技術(shù)參數(shù)
Q  值測(cè)量范圍    2  ～  1023  ，  量程分檔：  30  、  100  、  300  、  1000
，自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔  
固有誤差    ≤  5  ％  ±  滿度值的  2  ％（  200kHz  ～  10MHz  ），  ≤6％  ±
滿度值的2％（10MHz～160MHz）  
工作誤差    ≤7％  ±  滿度值的2％  （  200kHz  ～  10MHz  ），  ≤8％  ±
滿度值的2％（10MHz～160MHz）  
電感測(cè)量范圍    4.5nH  ～  140mH  
電容直接測(cè)量范圍    1  ～  200pF  
主電容調(diào)節(jié)范圍    18  ～  220pF  
主電容調(diào)節(jié)準(zhǔn)確度    120pF  以下  ±  1.2pF  ；  120pF  以上  ±  1  ％  
信號(hào)源頻率覆蓋范圍    100kHz  ～  160MHz  
頻率分段  （  虛擬  ）    100  ～  999.999kHz  ，  1  ～  9.99999MHz,10  ～  99.9999MHz
，  100  ～  160MHz  
頻率指示誤差    3  ×  10  -5  ±  1  個(gè)字    電感9只；
夾具一套