介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀，采用了多項領(lǐng)先術(shù)
      
介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀介紹


    HCJDCS-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀是根據(jù)GB/T
1409《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗方法》（等效采用IEC
60250）設(shè)計和制造的，并符合JB
7770等試驗方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測試。



  HCJDCS-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀作為最新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前國內(nèi)最高的160MHz。采用了多項領(lǐng)先技術(shù)：

1.            
雙掃描技術(shù)
-
測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動調(diào)諧搜索功能。

2.            
雙測試要素輸入
-
測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。

3.            
雙數(shù)碼化調(diào)諧
-
數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧。

4.            
自動化測量技術(shù)
-對測試件實施  Q  值、諧振點頻率和電容的自動測量。

5.            
全參數(shù)液晶顯示
–
數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、
Q
值、信號源頻率、諧振指針。

6.            
DDS
數(shù)字直接合成的信號源
-確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。

7.            
計算機自動修正技術(shù)和測試回路最優(yōu)化
—使測試回路  殘余電感減至最低，徹底根除  Q  讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑。


介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀的創(chuàng)新設(shè)計，無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了完美的解決方案，它給從事高頻電子設(shè)計的工程師、科研人員、高校實驗室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測工具，測量值更為精確，測量效率更高且更為方便。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點調(diào)諧電容值下檢測器件的品質(zhì)，無須關(guān)注量程和換算單位。。

介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀適用范圍


該儀器用于科研單學(xué)、學(xué)校、工廠等單位對無機非金屬新材料性能的應(yīng)用研究。  


介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測定儀技術(shù)參數(shù)

Q
值測量范圍  
2  ～
1023
，
量程分檔：
30
、
100
、
300
、
1000
，自動換檔或手動換檔  

固有誤差  
≤
5
％
±
滿度值的
2
％（
200kHz
～
10MHz
），
≤6％
±
滿度值的2％（10MHz～160MHz）  

工作誤差  
≤7％
±
滿度值的2％
（
200kHz
～
10MHz
），
≤8％
±
滿度值的2％（10MHz～160MHz）  

電感測量范圍  
4.5nH  ～
140mH  

電容直接測量范圍  
1  ～
200pF  

主電容調(diào)節(jié)范圍  
18  ～
220pF  

主電容調(diào)節(jié)準(zhǔn)確度  
120pF  以下
±
1.2pF
；
120pF
以上
±
1
％  

信號源頻率覆蓋范圍  
100kHz  ～
160MHz  

頻率分段
（
虛擬
）  
100  ～
999.999kHz
，
1
～
9.99999MHz,10
～
99.9999MHz
，
100
～
160MHz  

頻率指示誤差  
3  ×
10
-5  ±